技术编号:17783117
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明实施例涉及超快激光技术领域,更具体地,涉及一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置。背景技术为了研究材料内部电子结构、电子-电子以及电子-声子等相互作用,现有技术通常采用常规的静态手段,例如中子散射、光电子能谱、红外光谱和拉曼光谱等方法。虽然上述方法可有效探测材料的静态电子和声子结构等,但无法实时探测和操作瞬态非平衡态的电子结构,也无法观察到时域上电子与各自由度之间相互作用的驰豫过程。发明内容为了解决上述问题,本发明实施例提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的材料表面态二次谐...
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