技术编号:17816909
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于检测各个发光二极管中的老化过程的测量装置,该测量装置使得可以检测并随后补偿发光二极管中的亮度损失。在这种情况下,采用亮度强度的相对测量。本发明还涉及用于检测各个发光二极管中的老化过程的相应设置方法,以及涉及包括实现该方法的控制命令的计算机程序产品。背景技术美国专利公开号US 2016/0003670 A1示出了用于检测光电二极管中的老化过程的测量装置。在已知的方法中,发光二极管制造后,就立即测量并存储发光二极管的绝对亮度。随后预期的是,关于在发光二极管中预期的老化过程,从发光特...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。