诊断装置、诊断方法及存储介质与流程技术资料下载

技术编号:17830402

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本发明涉及诊断装置、诊断方法及存储介质。背景技术以前,为了使工厂等稳定运转,基于安装在工厂等的设备中的多个传感器的检测信号来诊断设备的异常。此外,已经研究了通过机器学习来分析这种多个传感器的检测信号的可能性(例如参见非专利文献1和2)。非专利文献1:高见豪、后藤宏绍、德冈萌、野坂佑一,“使用机器学习进行传感器数据分析的可能性”,横河技报,Vol.59,No.1,p.27-30非专利文献2:鹿子木宏明、高见豪,“使用机器学习进行传感器数据分析的可能性,第二部分”,横河技报,Vol.60,No.1,...
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