技术编号：17831377
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种光模块测试系统。背景技术在光模块的生产中，为了确保模块的质量，需对模块的关键指标进行测试。关键指标包括：光功率、消光比、光谱、通道代价、过载、灵敏度、接收/发射端监控等。现有的测试方式是：通道代价的测试需要单独的测试链路才能实现，而除通道代价以外的其他指标测试则需构建另外的测试链路可能实现。因此，在生产中造成测试工序繁琐，测试人员，设备，场地等资源的浪费，增加了生产成本，降低了测试效率。发明内容为了克服现有技术的缺点，本实用新型提供了一种光模块测试系统，将光模块的关键测试指标：...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。