技术编号：17839867
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及漏电保护技术领域，特别涉及一种可控硅耐压测试装置。背景技术漏电开关是一种用来对家里的线路进行保护的元器件，漏电开关中的关键元件为可控硅，当家里的线路中发生漏电时，会触发可控硅，切断线路；漏电开关的使用寿命有限，当经过一段时间的使用后漏电开关可能会因为可控硅的问题而导致无法使用，这就需要我们来检测可控硅是否有问题，现有技术中需要将漏电开关中的可控硅拆下后，利用示波器来检测可控硅是否正常，但是示波器体积大使用不便，且拆卸漏电开关也比较麻烦。发明内容为了解决上述的技术问题，本实用新型的目...
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