技术编号:17850277
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线探测。具体地,讨论了用于对相衬X射线成像和/或暗场X射线成像中的入射X射线条纹图样进行采样的X射线探测器,以及相关联的方法、干涉仪、X射线成像系统、计算机程序单元以及计算机可读介质。背景技术鉴于最近发现相衬成像在复杂的X射线光学领域适用而无需改变常规的源或探测器硬件,在过去十年中相衬成像在医学成像中获得了相当大的关注。相衬成像应用Talbot-Lau干涉测量法,并且通常以三个衍射或吸收X射线光学元件为特征。能够探查以微米或数十微米的尺度形成的干涉条纹,并且能够探查感兴趣对象的相位...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。