技术编号：17851155
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般地涉及用于检测电离辐射的装置和方法，并且更具体地涉及用于x射线成像的混合传感器。x射线成像领域在2000年代早期经历了“数字革命”，其中有数字放射照相术（DR）系统的扩散，所述数字放射照相术（DR）系统基于有源矩阵平板成像器（AMFPI）。自那时起，基于非晶硅（a-Si）有源矩阵技术，已经出现了大面积AMFPI的迅速发展和临床转化。由于其紧凑的大小、迅速的图像读出和优异的图像品质，AMFPI不仅用于传统x射线成像模态、诸如一般的放射照相术和荧光检查法，而且还用在断层成像应用中，包括锥束...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。