技术编号:17854883
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及可控硅的保护和启动技术领域,尤其涉及一种可控硅的保护及软启动电路。背景技术在许多交流设备中会用可控硅做控制,但使用可控硅过程中可控硅容易损坏:第一,交流设备在运行过程中,各种干扰使得在可控硅两端产生较大干扰,其尖峰电压经常超可控硅的极限电压从而损坏可控硅,常用的方法是在可控硅两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。如图5所示为常用的可控硅的RC阻容电路,但RC阻容电路尽管可以限制电压的上升,但由于电阻的存在,尖峰电压不能被完全吸收,其过高电压仍可能击穿...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。