技术编号:17944137
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体芯片测试技术领域,尤其涉及一种负反馈高精度模拟信号发生器。背景技术在芯片量产测试领域主要采用国外的一些自动化测试设备(ATE)。全球最大的ATE供应商一共有两家。模拟信号发生器是SOC芯片测试中非常重要的组成部分。精确的测定芯片模拟性能参数事关芯片的最终质量。在最新的芯片测试需求中,对于模拟信号的幅度提出了很高的要求,有些芯片-例如无线充电芯片,要求设备提供的模拟信号幅度精度非常高,要求幅度精度在+/-0.5mV以下。全球最大的ATE供应商中,这两家ATE设备各自都有自己的模拟信...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。