技术编号：17954322
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及仪器标定，特别涉及一种用于CCD标定的同心圆均匀分布干涉基线排布方法。背景技术CCD自20世纪70年代初发明以来，如今已经发展为大面阵高量子效率高均匀性的探测器，在光电成像领域具有不可替代的作用。CCD在科学与技术领域的广泛应用也不断挑战着CCD的性能极限以及人类对CCD的标定能力。特别地，在天体测量和光电成像领域，CCD作为超高精度的位置探测器，需要对其像素位置、像素内/间量子效率等像素特性进行精确标定。近年来，一种利用外差式激光干涉方法对CCD像素特性进行标定的方法逐渐发展起来。当...
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