技术编号:18019599
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及薄膜材料复介电常数的测量应用技术领域,具体涉及一种基于传输反射法的薄膜材料复介电常数的扫频测量装置及其测量方法。背景技术随着科技的进步,薄膜材料已经广泛应用于高速电子工业的各个领域,比如:信息存储、电磁兼容、磁场传感器、微波通讯器件等。众所周知,现代文明离不开高性能的电磁器件,而设计和研制这些器件的基本前提是准确的知道所用材料的基本电磁参数,当器件向更小的尺寸方向发展时,要求器件所用的电子材料薄膜化,因此,如何测量出介质薄膜的高频电磁参数显得尤为重要。迄今为止,虽然对于块状材料的复介电...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。