技术编号:18124860
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储技术领域,尤其涉及一种半导体存储器件的检测电路及半导体存储器件。背景技术在高速数据传输过程中如DRAM和CPU之间的数据传输,为了保持信号的完整性,阻抗匹配变得越来越重要,因此需要高精度的输出端口;其中,DRAM是Dynamic Random Access Memory的简称,中文名称为动态随机存取存储器,CPU是Central Processing Unit的简称,中文名称为中央处理器。然而,输出端口的输出阻抗会随着制造工艺,应用环境如电压,温度等因素变化而变化。因此,DR...
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