技术编号:18142340
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种光学显微镜用谷物籽粒吸湿裂纹观测装置,属于谷物籽粒吸湿裂纹观测装置技术领域。背景技术目前,对于谷物籽粒裂纹可采用的观测方法有:肉眼直接观测法、光学显微镜法、X射线法、核磁共振成像法、扫描电镜法、计算机视觉等。但在吸湿环境下,对于吸湿导致的谷物籽粒裂纹,还是主要采用在灯箱上肉眼直接观测。还未发现与光学显微镜配套的谷物籽粒吸湿裂纹观测装置。在其它方法中,X射线法、核磁共振成像法、扫描电镜法等检测成本高,更适合无损检测籽粒内部裂纹,且不易提供吸湿环境。计算机视觉技术可用于吸湿环境下裂...
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