技术编号:18214361
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及零部件测试技术领域,特别涉及一种测试装置及具有其的测试系统。背景技术测试装置是用于测试产品的尺寸或产品的缺陷,如,磁粉探伤是利用螺栓缺陷处的漏磁场与磁粉的相互作用,针对螺栓可能存在的缺陷(如裂纹,夹渣,混料等)磁导率和钢铁磁导率的差异,磁化后这些材料不连续处的磁场将发生畸变,形成部分磁通泄漏处工件表面产生了漏磁场,从而吸引磁粉形成缺陷处的磁粉堆积—磁痕,在适当的光照条件下,显现出缺陷位置和形状,对这些磁粉的堆积加以观察和解释,以达到剔除不良品的目的。然而现有的测试装置每测试完一个工...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。