技术编号:18294578
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及芯片检测设备技术领域,尤其涉及一种高效的IC外观检测分检装置。背景技术随着电子元件迅速向微型化、片式化、高性能方向的发展,集成电路IC的外观缺陷检测是电子元件的质量保证,通常在IC植好球,焊接好以后,要对IC的外观进行检测,外观检测是IC生产的一个重要环节,通过外观检测,可以避免由IC外观缺陷导致的IC功能缺陷。目前IC外观检测仍然采用传统的人工目测检测,发现缺陷后,手动剔除不合格产品,由于IC生产量大,锡很小,检测人员长时间用眼易造成视觉疲劳,很容易出现错检,漏检的情况,使质量保...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。