技术编号：18430195
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光谱反射率技术领域，具体为一种用于光谱反射率测量装置。背景技术反射率通常是指物体发射太阳辐射与该物体表面接收太阳总辐射量的两者比率或分数度量，也就是反射辐射与入射总辐射的比值，是无限钢量，反射率在气象学和天文学是非常重要的概念，光谱反射其实是有漫反射和带有一定反射角的两种反射方式，表示反射力大小的数值叫做反射率。目前在对光谱反射率在进行测量时，通常是将待测样品放置在固定盘上，一个一个地进行测量，当测量多个样品时，需要工作人员不断地移动待测样品的位置，在移动的过程中，可能会带来一定的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。