技术编号：18430773
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及I/O测试技术，具体涉及一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置。背景技术设备间或模块间可选择的通信接口正在向总线化和高速化发展，通用的I/O接口由于其实现简单、方便快捷，可以满足特定信息传输的需求，仍具有较强的生命力。I/O测试需要外部输入某种特定电压、特定脉宽和频率的信号波形，在研制阶段通常采用信号发生器来实现，但是批产后，由于信号发生器价格昂贵，路数少，且设置繁琐，设置错误又会引起产品质量问题，使用信号发生器进行I/O测试的弊端就突显出来。实用新型内容本实用新型的目的在于提供...
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