技术编号：18441866
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种云台结构，尤其涉及一种新型抗电磁辐射云台结构。背景技术在EMC暗室进行产品EMC性能测试时，需要使用监控系统实时掌握测试情况。使用云台可有效扩大监控范围，更有利于测试的进行。而 EMC测试时常伴随有强电磁辐射存在，普通电控云台在强电磁环境下，会有运动失控、驱动损坏的风险，导致云台无法正常工作。实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种新型抗电磁辐射云台结构，具有防护强电磁辐射场的功能，解决现有技术存在的缺憾。本实用新型采用如下技术方案实现：一种新型抗电磁辐射云台结构，结构中包括一...
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