技术编号:18452310
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及测评技术领域,具体而言,涉及一种试题评估方法及装置。背景技术在测量理论和计算机技术的发展下,要将大规模的测试题库建设成自适应功能的测试系统,整个题库建设工作必须建立在科学的、先进的心理教育测量学的理论基础之上,即通过为试题添加合适的试题难度标签,满足不同水平测试者的要求。目前,传统的测评技术是通过人工判断对试题难度进行预估,评估有效性有待提高。发明内容有鉴于此,本公开提供一种试题评估方法及装置。本公开提供一种试题评估方法,应用于电子设备,所述电子设备预存有试题库,所述试题库中的每个试题...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。