技术编号:18457438
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于频域近红外光学成像技术领域,具体为基于多角度测量的弥散介质光学参数场探测装置及方法。背景技术弥散介质为包含颗粒的参与性介质,弥散介质的内部结构探测在很多领域的研究中都具有重要的作用,如生物医学成像、无损探测、红外遥感、火焰测温等领域。多数情况下,弥散介质内部的光学参数场分布不能通过测量直接得到,但利用激光入射弥散介质时,介质边界的边界探测信号出射辐射强度是可以直接测量的,结合重建优化算法分析边界测量信号中的光学信息,可以重建得到介质内部的光学参数场,协助介质内部结构的诊断及探测研究。利...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。