技术编号：18459573
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于天线技术领域，具体涉及一种基于随机场测度的相控阵天线电性能分析方法。背景技术有源相控阵天线因其多功能、高可靠性、隐身性能好、探测和跟踪能力高等无可比拟的优势，已经成为各种雷达系统中的核心装备之一，在随着世界军事技术的提升发展，对于相控阵天线的性能要求越来越高。而相控阵天线的结构稳定性与天线电性能有着紧密相关的联系，加工装配以及外部载荷振动冲击等会引起阵面的结构发生变形，改变阵面单元的位置，进而导致天线增益下降、副瓣抬高、指向精度差等问题。因而对于阵面结构变形对天线电性能的影响的研究是非...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。