技术编号:18459905
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于无机半导体发光材料的制备技术领域,具体涉及一种基于多层包覆的X射线成像用高稳定卤素钙钛矿量子点薄膜的合成方法。背景技术全无机钙钛矿量子点(CsPbX3,X=Cl, Br, I)是一种离子型半导体材料,量子点表面配体的结合处于动态吸附的过程,在分离和纯化过程容易造成大量配体的损失,从而导致发光效率和稳定性下降,这将制约量子点在光电显示器件的实际应用。此外,目前大量使用的X射线成像设备的工作原理是间接成像,即用闪烁体吸收X射线并发出荧光,由面阵探测器探测荧光的强弱进行成像。所以,闪烁体的光...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。