技术编号：18475167
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片检测领域，尤其涉及一种芯片年龄判断方法、装置、芯片及终端。背景技术因为芯片全球供应链的关系，政府、公司等单位购买芯片使用的来源渠道多种多样。芯片回收翻新再售卖给相关的单位已经是一种常见的黑产获益手段。相关的政府，公司使用了翻新的芯片产品会对自身的产品稳定性造成巨大影响。当前手段仅仅通过芯片外表判断亦或是通过物理侵入芯片判断内部结构是否老化。这种判断方法费时费力，并且由于翻新技术的更迭，往往无法达到验收的效果，同时无法精确的判断出芯片的年龄。如何准确的判断芯片年龄，是本领域亟待解决的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。