技术编号：18501269
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及3D成像技术领域，特别是涉及一种摄像模组及电子设备。背景技术结构光测量是一种非接触、主动式的光学测量方法。其基本原理是通过结构光发射单元将结构光投射到物体表面，经过物体表面的深度信息调制之后发生畸变，再由结构光接收单元采集变形图案，通过解码确定唯一的编码值。若确定了结构光发射单元和结构光接收单元之间的位置关系，则可以利用三角法原理解得物体表面的三维深度信息。现有的双目结构光成像系统(包括一个发射单元和两个接收单元)中的发射单元一般包括发光芯片以及结构光元件(例如：DOE衍射光学元件...
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