技术编号:18516076
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体涉及辐射探测器的领域。更具体地,本发明涉及X射线探测器、包括这样的X射线探测器的X射线成像装置以及用于操作具有这样的X射线探测器的X射线成像装置的方法。背景技术谱X射线成像已经成为越来越重要的领域,因为可以从在X射线辐射的不同能量和/或不同能量范围下采集的若干幅X射线图像中获得额外信息。对于谱X射线成像,已经开发了各种类型的X射线探测器。这样的X射线探测器的一个示例是所谓的双层探测器,也称为夹层探测器,其中,例如具有闪烁体的两个光电探测器被布置在彼此的顶部上。通常,X射线硬化滤波器被布...
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