技术编号：18521553
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明要求于2018年02月13日提交的法国专利申请号1851201的优先权，该申请通过引用并入本文。技术领域本公开一般涉及光电芯片，并且更具体地涉及这种芯片的光子(即光学或光电)电路的测试。背景技术为了确保芯片的光子电路工作，对后者进行测试或表征。为此目的，在芯片的光学输入的层级处注入(inject)的光学信号被提供给待测试的电路。然后观察电路的输出信号以确定电路是否工作。发明内容在第一方面，提供了一种光电芯片，其包括：光学输入对，其具有相同的带宽，并且光学输入对均被适配于不同偏振；待测试的光...
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