技术编号：18551069
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元件检测技术领域，具体为一种电容载盒以及使用该载盒进行电容测试和老化的方法。背景技术电容在生产完成后，需要测试电容的容量损耗以及绝缘电阻，另外还需要对其进行加温老化试验。在对较高等级MLCC电容的成品进行测试及筛选时，需先将成品初测一次，然后进行加电加温老化，然后再对成品进行测试，对比MLCC电容在老化前后的参数变化，筛除性能不稳定或有隐患的成品。在现有技术中，需要使用自动测试机及多路老化筛选设备分别完成测试及老化工序。通常这两种设备使用不同的工装夹具，在实际操作中，当电容成品流转...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。