技术编号：18630194
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及消费性电子设备领域，尤其涉及一种检测设备以及检测方法，用于检测电子设备的壳体的电磁特性。背景技术随着科技的发展，电子设备例如手机得到了极大地发展，手机的设计水平以及技术也在不断进步，越来越多的手机开始采用金属后盖。金属后盖对于手机的天线设计来说，无疑是一个很大的障碍。由于工程师的不断努力，使得天线设计有了很多针对金属外壳的设计方案。虽然天线的性能满足了手机通信的需求，但是现有的技术方案中，全金属后盖上仍然会有天线所辐射出的信号在传播。主集天线的信号经过金属后盖传播会对分集天线的性能造成...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。