技术编号:18734553
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种针对铁氧体的高精度低频复数磁导率测量装置及方法,属于磁导率测量技术领域,特别适用于对铁氧体磁性材料低频复数磁导率的测量。背景技术对于磁性材料而言,磁导率是一个很重要的参数,它表征着磁性材料导磁性能等。而目前,超高灵敏原子磁强计、原子陀螺仪等量子精密测量领域高度依赖测量所处磁场环境,需要低噪声的磁屏蔽桶,因此提出了使用铁氧体磁性材料制作磁屏蔽桶,由于其高电阻率的性质,铁氧体磁屏蔽桶拥有比常用磁屏蔽桶更低的磁噪声,而其低频磁噪声主要由磁滞损耗磁噪声决定,而磁滞损耗磁噪声可根据低频复数磁...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。