技术编号:18800118
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及芯片检测技术领域,尤其涉及一种智能数字芯片自动检测装置。背景技术集成电路数字芯片成品生产后,要对芯片进行检测,检测内容包括物理缺陷检测、磁感应检测等等,检测后的合格芯片要进行封装,不合格芯片要进行回收。现有的检测装置底部一般会设置万向轮,用于移动检测装置,但现有的检测装置底部的万向轮多为固定安装,由于检测装置普遍体积较大重量较重,使得万向轮始终存于受压状态,容易导致万向轮变形,影响万向轮的使用寿命,增加维护成本。实用新型内容本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,如:现有的...
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