技术编号：18818873
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及用于改进诸如例如显微镜法的基于辐射的成像的垂直分辨率的人工制品。此外，本公开涉及用于改进基于辐射的成像的垂直分辨率的方法。此外，本公开涉及用于基于辐射的成像的系统。背景技术在显微镜法和其他相应的基于辐射的成像中，重要的度量包括放大率、视场“FOV”、横向分辨率、垂直分辨率、灵敏度以及垂直方向中的景深“DOF”。垂直方向基本上与基于辐射的成像中使用的辐射的主传播方向平行，而横向方向垂直于垂直方向。横向分辨率取决于与基于辐射的成像相关的数值孔径“NA”，使得可以在横向方向中分辨的最精细的细...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。