技术编号：18858510
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试连接装置。背景技术随着集成电路应用领域扩大，大量用于各种整机系统中。在系统中集成电路往往作为关键器件使用，其质量和性能的好坏直接影响到了系统稳定性和可靠性。在集成电路生产检测过程中，需要对集成电路进行测试，而时常会遇到测试装置的接口和集成电路接口不对应，这样一来就无法完成测试，所以需要一种连接装置实现集成电路接口的转接，而这种连接装置一般由第一转接头、第二转接头和导线实现，第一转接头与集成电路引脚配合，第二转接头与测试装置配合，第一转接头和第...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。