技术编号：18864424
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及面板检测设备技术领域，具体地指一种线扫相机结构及具有线扫相机结构的大尺寸面板光学检测设备。背景技术随着光电子信息技术飞速发展，显示屏广泛应用普及。各大面板厂商为了保证面板的生产合格率和质量，在每道生产工序后需要对面板进行一系列的不良检测。其中面板的:crack(裂纹)、scratch(划痕)、glasschip(玻璃缺口、碎片)、particle(颗粒)等不良外观，将直接影响到成品出货质量和客户使用体验，因此不良检测在面板产品的检测中尤为重要。显示面板的不良检测中，尤其是在对于大尺寸面...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。