技术编号：18943179
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及纳米材料检测设备领域，特别涉及一种透气纳米膜表面材料脱落检测装置。背景技术纳米膜材料是以纳米级别原料为主要或次要原料经过加工制备而成的复合薄片，通常具有透气的特点，由于其材料本身粒径较小，比表面积较大等特点，导致很多纳米膜成形后较易脱落，所以测定纳米膜中纳米粒子材料的脱落数量就显得比较重要；就目前来看，真正测定纳米膜中纳米粒子材料脱落量的方法并不多，常规的测定膜状材料上掉粉的很多方法都主要是针对大颗粒类物质；例如纸张的掉毛、掉粉测定，或者一些较易脱落的薄膜；从测定装置来说，主要是通过测...
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