技术编号：19022218
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请案根据35 U.S.C.§119(e)规定主张于2016年12月21日申请的以安德鲁·克罗斯(Andrew Cross)及艾伦·帕克(Allen Park)为发明者的标题为通过图像过程及比较进行结构量化(STRUCTURE QUANTIFICATION THROUGH IMAGE PROCESS AND COMPARISION)的序列号为62/437,585的美国临时申请案的权利，所述申请案的全文以引用的方式并入本文中。技术领域本发明大体上涉及样本检验及半导体晶片上的失效图案的识别，且更特...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。