技术编号:19038278
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及三维测量和工业检测领域,具体涉及一种基于二维、三维技术融合的LED芯片模组缺陷检测装置。背景技术目前,国内外主流的LED显示屏检测主要是通过机器视觉技术检测完全封装好的LED屏幕,以判断其成像效果的好坏。然而LED 显示屏成像的缺陷种类较多,不仅仅是色度和亮度不均匀这种面缺陷问题,还包括点缺陷和线缺陷等问题,而且目前对于LED屏的检测还缺乏统一的缺陷检测标准;另外,采用成像检测方式,一旦检测出的LED屏为不合格品,就会导致LED屏直接整体报废,造成资源浪费和经济损失。此外,对于目前...
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