技术编号：19119522
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及实验装置技术领域，特别是涉及一种激光热透镜焦距测量实验装置。背景技术半导体激光器工作时产生的温度会使晶体表面产生热形变，由于增益介质内部的温度梯度分布产生的热透镜的畸变中占据着主导地位，将导致其输出功率的不稳定性和多种模式的耦合，同时还限制了激光功率的提高，严重影响了固体激光器的性能。激光热透镜效应是影响激光性能的重要因素之一，直接影响着激光谐振腔的稳定性、腔模尺寸、光束质量、激光效率等参量。在对激光热透镜效应的研究以及谐振腔设计及激光模式计算中，最关键的就是对热透镜焦距的精确测量。因...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。