技术编号：19126254
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及但不限于测试技术领域，尤指一种针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质。背景技术目前，在航空、航天、军工领域，装备的集成度、复杂度越来越高，对装备的自测试、自诊断能力要求也越来越高，这就要求此类装备具备先进的机内测试(Built-in Test，简称BIT)系统。然而，目前的BIT系统多数针对的是数字信号系统设计的，对于诸如模拟信号的放大、滤波、调理整形、信号变换、功率放大或电源等故障高发的模拟电路，由于缺乏先进的故障诊断方法支撑，没有有效的BIT设计技术。发明内容本申请实施例...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。