技术编号:19150807
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学图像信息采集技术领域,具体为一种双折射晶体快拍穆勒矩阵成像测偏系统。背景技术目前采用的偏振光栅快拍穆勒矩阵成像测偏技术有两大缺点,一是消光比和透射率较低、光谱带宽较窄,二是只能用来测量对光谱不敏感的目标。发明内容针对上述的问题,本发明一种双折射晶体快拍穆勒矩阵成像测偏系统,主要通过前后设置4块双折射晶体即改进型萨瓦偏光镜,将1束线偏振光先剪切成4束线偏振光,该4束线偏振光经凸透镜形成干涉条纹定位在样品上,所述干涉条纹通过两种载频来调制样品的穆勒矩阵,接着被调制后的4束线偏振光再被剪...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。