技术编号:19153429
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测距设备领域,尤其涉及一种光发射单元、光发射装置和测距设备。背景技术目前,市场上常见的光学类测距设备的测距技术通常包含结构光、tof(timeofflight,飞行时间测距法)、激光雷达等,其原理是通过向待测体发射光束,然后将接收到的从待测体反射回来的信号经过适当处理后,就可以获得待测物体的相关信息,从而实现对待测物体的探测、跟踪和识别。然而,在测距设备的探测过程中,光源的发光功率会直接影响测距设备的探测距离,即现有的测距设备的探测距离受限于光源的发光功率,因此,设计一种能够等效提...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。