技术编号:19175699
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及芯片测试技术领域,特别是涉及一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片。背景技术非接触卡芯片是一类通过天线和电磁场获取电源,并与读卡机进行通信的芯片。对于非接触卡生产商来说,为确保非接触卡芯片的出厂质量,需要在出厂前测试非接触卡芯片的功能是否正常,这就用到非接触卡芯片的测试设备。目前的非接触卡测试设备通常为专用射频测试机台,专用射频测试机台采用调制射频的方式发送命令给待测芯片并接收待测芯片的返回信息,待测芯片的基带信号和时钟、能量均通过射频接口获取。采用专用射频测试机台对非接触卡芯片进行测...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。