技术编号:19177142
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及辐射探测技术领域,更具体地涉及一种用于探测电离辐射的辐射探测装置。背景技术电离辐射是指一切能引起物质电离的辐射总称,包括α射线、β射线、γ射线、x射线、中子射线等。电离辐射分为直接致电离辐射和间接致电离辐射,其中,α射线、β射线、质子等带电荷,可以直接引起物质电离;x射线、γ光子和中子等不带电荷,但是在与物质作用时产生“次级粒子”从而使物质电离。随着核技术的发展,电离辐射在生活中的应用越来越普遍,比如,x射线探伤及测厚仪、医学上用的x射线诊断机、γ射线治疗机、核医学用的放射性同位素...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。