技术编号：19262590
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光学测量领域，特别是涉及一种测量平台用的显微镜。背景技术测量显微镜，采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量，特别适用于录象磁头、大规模集成电路线宽以及其它精密零件的测试，广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门，工作台除作x、y坐标的移动外，还可以作360度的旋转，亦可以进行高度方向做z坐标的测量，是一种理想的固定场所小型精密测量仪器；测量显微镜仪器进一步可连接ccd电视摄像头，作工件的轮廓放大；亦可连接计算机进行数据处理等测量。但是目前现有的测量显微镜，其不同倍率镜头...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。