技术编号：19280817
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及抗多节点翻转的多级故障过滤集成电路设计技术领域，尤其是一种n-1级故障过滤表决器。背景技术随着半导体技术的快速发展，现代电路的集成度越来越高，并且ic芯片的制作工艺已经达到了深纳米级水平。但是由于电路特征尺寸越来越小，集成电路更容易受到外部辐射粒子的影响，比如中子、α粒子、质子、重离子、电子和介子等，当这些粒子撞击集成电路的敏感节点时，它们将促进额外的电荷产生，导致错误的瞬态脉冲或翻转，称为软错误。在纳米工艺下，特别是在强辐射环境中，软错误严重的影响了电路的可靠性。表决器是用来与被表决...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。