技术编号：19350065
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种硬盘测试方法，具体涉及一种pcie扩展集群测试硬盘的装置及方法。背景技术在ssd固态硬盘存储行业中，硬盘测试的速度和品质以及数量是所有公司的迫切想解决的方法，现有是为提升电脑主机数量来达到数量上对于ssd测试出货的速度，研发出来板卡都是一对一单接出来的，所以不管在测试数量上、安全性上、品质上，一种pcie扩展集群测试硬盘的方法的出现就显得非常有必要。结合图1，现有ssd测试板卡大部分采用一对一单接板卡原理，其技术实现的依据是：利用电脑主机会拥有6个sata口，然后就用六条延伸的sa...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。