技术编号:19413345
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及红外系统校正技术领域,尤其涉及一种制冷红外校正系统。背景技术红外系统以其独特的工作波段被广泛应用于军事、医疗、安防等领域,由于红外系统探测器是以对红外热辐射的敏感度实现目标探测,因此大多数红外系统需要对探测器进行制冷。制冷型红外系统的优点是探测器在工作时通过制冷剂对靶面进行实时制冷,使其对目标的热辐射更加敏感,提高了探测的灵敏度。由于探测器本身的缺陷及所处环境的温度影响,在制冷型红外系统工作前,需要对系统进行非均匀性校正,使探测器靶面在探测目标前均匀分布。校正的方法采用是在探测器或系统...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。