技术编号：19512451
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及样品自动更换技术领域，具体涉及一种快速自动换样插件。背景技术中子、x射线等实验过程是将中子或x射线发射到样品材料中，通过探测器分析、观察材料散射或衍射的现象，从而可以得出样品材料的微观结构特征。材料测试实验中改变样品的温度可以获得不同温度时样品内部的微观结构信息，实验过程中，若需要更换样品，则需要进行关闭射线束流、设备拆卸和屏蔽墙体开关等操作，为了提高实验效率和避免射线时间的浪费，一次性可进行多个样品的低温实验至关重要。因此，现有技术有待提高和改进。实用新型内容本申请旨在提供一种快...
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