技术编号:19644303
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测厚规。背景技术测厚规是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性测厚规;有利用超声波频率变化的超声波测厚规;有利用涡流原理的电涡流测厚规;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。但现有测厚规因为不能使探测头与被测产品充分接触,从而使测量存在误差。发明内容本实用新型的目的是针对背景技术中存在的缺点和问题加以改进和创新,提供一种测厚规。本实用新型的技术方...
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