技术编号:19671052
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于纳米粒度检测领域,尤其是一种多角度测量纳米粒度的检测装置及其检测方法。背景技术随着科学技术的不断发展,纳米材料的制备和应用与人们的生活息息相关,在纳米材料的制备过程中,纳米粒度是最基本一项检测项目,纳米粒度是指纳米颗粒的大小,纳米颗粒一般是指粒径小于100nm的颗粒。为了满足生产制备对纳米颗粒粒度的要求,需要针对纳米颗粒粒度进行检测,现有的检测方法主要有电感应法、沉降法、显微镜法以及光散射法,其中光散射法作为众多纳米粒度检测方法的一种被广泛使用。其中,光散射法又分为静态光散射法和动态光...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。