技术编号:19688447
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种基于频域处理的亚波长级分辨力超声成像方法,其属于无损检测技术领域。背景技术相控阵超声检测技术通过灵活控制声束时空特性,有效提高检测成像质量,声束聚焦区域成像分辨力约为2~3个波长,但存在空间成像分辨力不均的问题。基于全矩阵数据的全聚焦方法能够实现待检区域逐点聚焦,成像分辨力具有空间一致性,如采用64阵元相控阵探头实施成像时,分辨力可达到1个波长。当缺陷间距进一步缩小时,受超声波脉冲宽度制约,相邻缺陷回波信号发生混叠,成像后无法准确辨别缺陷数量和相对位置。因此,将超声成像分辨力从波长...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。